Vérifié

ZSX Primus IV/IVi

Spectromètres WDXRF séquentiels à haute puissance

Rigaku Europe SE

Les spectromètres XRF ZSX Primus IV/IVi de Rigaku sont des instruments WDXRF séquentiels de haute puissance (4 kW) qui combinent un débit élevé avec une sensibilité et une résolution des éléments légers à la pointe de l'industrie. Disponibles en configurations optiques tube au-dessus et tube au-dessous, ils utilisent des sources de rayons X qui se caractérisent par une stabilité et une fiabilité à long terme excellentes. Ils sont donc idéaux pour les applications industrielles et universitaires les plus exigeantes en matière d'analyse chimique, par exemple dans les mines et les minéraux, le ciment, les alliages, les liquides, les métaux plaqués, etc.

Caractéristiques principales

  • Débit élevé grâce à la double position de chargement - idéal pour les applications industrielles
  • Source de rayons X haute puissance de 4 kW avec une excellente stabilité à long terme
  • WDXRF compact et léger sur pied
  • Sensibilité supérieure aux éléments légers
  • Analyse ponctuelle/cartographique
  • Compensation automatique des surfaces d'échantillon inégales
  • Utilise les technologies de cristaux d'analyse incurvés les plus innovantes pour obtenir les intensités les plus élevées.
  • Logiciel intuitif ZSX Guidance
  • Système intelligent de chargement d'échantillons (SSLS), utile pour différentes tailles d'échantillons et pour l'automatisation
  • Disponibilité de la purge He et N2 pour l'analyse des liquides et des poudres libres

ZSX Primus IV - Configuration tube au-dessus

La configuration optique unique du tube au-dessus de Rigaku élimine virtuellement la possibilité de dépôt de débris sur la source de rayons X ou le détecteur. Cela garantit la précision des mesures et évite toute maintenance indésirable, ce qui en fait le choix idéal pour les poudres et les liquides pressés.

ZSX Primus IVi - Configuration du tube inférieur

Le ZSX Primus IVi utilise une configuration optique conventionnelle de type "tube en dessous". Cette configuration a permis à Rigaku de présenter le système dans le plus petit encombrement de l'industrie et est idéale pour les billes fondues, les allots, les métaux plaqués et les liquides.

Analyse à haut débit et manipulation automatisée des échantillons

Le système a été optimisé pour une analyse automatisée à grande vitesse, ce qui le rend idéal pour les applications industrielles nécessitant des délais d'exécution rapides. L'amélioration des conceptions mécaniques et électroniques a permis de réduire les temps morts et d'augmenter le débit d'échantillons. L'augmentation de la vitesse de traitement est également facilitée par un système d'analyseur numérique multicanaux (D-MCA) qui permet un traitement à grande vitesse pour des taux de comptage élevés, ce qui améliore la précision de l'analyse.

Performance des éléments légers

Le Rigaku ZSX Primus IV/IVi offre également des limites de détection exceptionnelles pour les éléments légers grâce à une fenêtre Be de 30µm sur le tube à rayons X, la plus fine disponible dans le commerce, ainsi qu'à des cristaux d'analyse spécialement développés, avec des valeurs 2d dédiées, pour capturer les longueurs d'onde des éléments légers.

Pour les éléments ultra-légers (Be - O) et les éléments légers avec des émissions de rayons X de faible énergie (F - Al), le degré de vide a un impact important sur l'intensité des rayons X. L'APC (contrôle automatique de la pression) permet de maintenir des conditions de vide stables et facilite la reproductibilité de l'intensité des rayons X pour ces éléments.

Des analyses plus cohérentes

Il est également doté du système optique de Rigaku qui supprime les variations de signal dues aux changements de distance entre l'échantillon et le détecteur en raison de surfaces inégales, etc.

Cartographie des points

Le ZSX Primus IV/IVi vous permet également de réaliser des cartographies de points. En utilisant une caméra haute résolution, vous pouvez facilement zoomer sur une caractéristique spécifique d'intérêt et effectuer une analyse chimique, ce qui est idéal pour les échantillons inhomogènes tels que les minéraux ou les inclusions d'alliage.

Logiciel SQX amélioré

Grâce à des améliorations constantes, l'analyse SQX de Rigaku devient plus facile à utiliser. Il s'agit d'une méthode très précise de détermination de la composition élémentaire de votre échantillon basée sur l'analyse FP sans standard.

Logiciel ZSX Guidance

Le logiciel ZSX Guidance vous aide dans tous les aspects de la mesure XRF et de l'analyse des données. Commun à tous les spectromètres Rigaku WDXRF, le logiciel ZSX Guidance met les mesures et les analyses les plus complexes à la portée de n'importe quel utilisateur, tout en facilitant toutes vos mesures de routine et programmées.

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