Acquistare Microscopi Laboratorio Per Analisi Dei Guasti
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Acquistare Microscopi Laboratorio Per Analisi Dei Guasti

LUMOS II da Bruker
Microscopia FT-IR in corsia di sorpasso - LUMOS II
Un microscopio a infrarossi per tutti
Il nostro obiettivo: massima qualità dei dati e velocità di misurazione ✓ Concetto operativo semplice: gli utenti vengono addestrati in pochi minuti ✓ Sostenibilità intelligente: non richiede costosi materiali di consumo ✓

Emspira 3 da Leica
Ispirare semplici ispezioni
Ispezione con un unico sistema
Risparmiate tempo grazie alla rapida identificazione dei campioni ✓ Misurate e documentate direttamente durante l'ispezione visiva, senza l'ausilio di un PC ✓ Immagini chiare con un minor sforzo manuale ✓

DM8000 M & DM12000 M da Leica
Vedere di più, riconoscere più velocemente
Sistemi di ispezione per la massima produttività
Il design impedisce l'accumulo di polvere e i flussi angolari per una camera di analisi e ispezione pulita ✓ Massima risoluzione laterale con l'obiettivo UV 150X ✓ L'obiettivo USP 0,7x consente di ottenere un campo visivo più ampio e di ridurre i tempi di analisi ✓

DMi8 A da Leica
Microscopio invertito Leica DMi8 per applicazioni industriali
Vedere altri campioni
È possibile passare dalla visualizzazione macro (35 mm) a quella nano (1 nm) con un solo clic ✓ Maggiore dettaglio grazie all'esclusiva illuminazione UC-3D ✓ Gestione intuitiva ✓

DM6 M da Leica
Microscopio verticale per materiali
Tutto impostato e salvato
Azionamento della messa a fuoco motorizzato ad alta precisione a 2 velocità ✓ Ogiva motorizzata 6x o 7x ✓ Leica DM6 M + software = sistema di misura ideale per la massima precisione e ripetibilità ✓

DVM6 da Leica
NON CERCARE, TROVA!
Veloce, affidabile e facile da usare
Ricerca flessibile ✓ Analisi rapida e semplice dei vostri campioni ✓ Risultati affidabili ✓

Apreo 2 Scanning Electron Microscope da Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 SEM: microscopio elettronico a scansione con impressionanti proprietà di risoluzione
Versatilità senza pari grazie alla tecnologia ChemiSEM
*Prestazioni a tutto tondo* nell'intervallo nanometrico o subnanometrico, come nanoparticelle, polveri ✓ Automazione avanzata, facilità d'uso, risultati rapidi ✓ Estrema flessibilità nella gestione di un'ampia gamma di tipi di campioni ✓

JEOL SEM Series da JEOL
Microscopia elettronica a scansione: sistemi flessibili per la ricerca e l'industria
Dai dispositivi da banco al FEG-SEM: soluzioni personalizzate per analisi precise
Ampia gamma di utenti, dai dispositivi desktop entry-level agli emettitori di campo ad alta risoluzione ✓ Dispositivi di misura durevoli, eccellente acquisizione dei dati, dimensioni compatte ✓ Contratti di assistenza efficienti e affidabili e opzioni accessorie personalizzate (EDX, WDX, EBSD, GatherX, ecc) ✓

HYPERION II da Bruker
Microscopio FT-IR e IR laser imaging (QCL) per la ricerca e lo sviluppo
Esaminare campioni macroscopici con risoluzione microscopica (5 µm) in pochi secondi
Microscopia e imaging (FT-)IR altamente sensibili con la massima velocità al limite di diffrazione ✓ Imaging laser a infrarossi preciso in tutte le modalità di misurazione (ATR, trasmissione, riflessione) ✓ Riduzione della coerenza brevettata per misure di imaging laser prive di artefatti alla massima velocità ✓
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