alpha300 R

Il WITec alpha300 è un microscopio Raman confocale unico nel suo genere, in grado di eseguire di routine l'imaging Raman chimico 3D mantenendo la massima velocità di misura e qualità spettrale. Ciò è particolarmente vantaggioso per le applicazioni in cui è importante l'esatta rappresentazione spaziale dei componenti chimici sulla superficie o all'interno del campione. È possibile creare facilmente profili di profondità, stack di immagini 3D o immagini Raman topografiche con il massimo contenuto informativo. La risoluzione locale dipende sempre dal limite fisico di diffrazione e ha un minimo approssimativo di 200 nm. Allo stesso tempo, sono possibili misure ad alta velocità, con la possibilità di registrare fino a 1300 spettri al secondo.

Con l'ultimo rilascio di una nuova generazione del microscopio alpha300 apyron, WITec porta l'automazione dell'imaging Raman a un livello superiore. All'interno della serie alpha300, l'"apyron" è il sistema di imaging Raman di punta. Combina la facilità d'uso con le massime capacità, automatizzando il controllo dell'hardware e offrendo routine di misura preconfigurate. Questo semplifica il flusso di lavoro sperimentale e produce risultati riproducibili con velocità, sensibilità e risoluzione senza pari.

Un vantaggio fondamentale della tecnologia Raman di WITec è la serie di spettrometri UHTS flessibili e ad alta produttività. Ogni spettrometro è ottimizzato per la lunghezza d'onda di eccitazione utilizzata. Di conseguenza, l'utente ottiene un throughput molto più elevato rispetto agli spettrometri convenzionali e può operare, ad esempio, con una potenza laser inferiore, il che è particolarmente vantaggioso quando si studiano campioni sensibili. Le proprietà spettrali sono caratterizzate da una forma di picco che corrisponde a una curva di Lorenz quasi ideale e quasi tutto l'intervallo spettrale rilevante può essere registrato con una risoluzione di pixel fino a 0,1 ^cm-1 / pixel.

Se la potenza del laser deve essere misurata e regolata con precisione, il cliente può disporre dell'opzione TruePower, che consente di determinare la potenza assoluta del laser con incrementi di 0,1 mW. I valori vengono registrati con l'acquisizione dei dati Raman e possono essere recuperati in seguito, cosa importante per la documentazione interna. Naturalmente, l'esperimento può essere ripetuto in un secondo momento nelle stesse condizioni. Ciò rende obsoleti i filtri a densità neutra, spesso utilizzati a questo scopo nonostante siano in grado di fornire solo un'attenuazione relativa.

Il design modulare del microscopio consente di combinare l'imaging Raman con altre tecnologie di microscopia. WITec è un pioniere in questo campo e da tempo è in grado di offrire ai propri clienti la microscopia Raman integrata con AFM o SNOM, selezionabile semplicemente ruotando la torretta del microscopio. La combinazione con la profilometria ottica nell'opzione di microscopia TrueSurface brevettata da WITec per l'imaging Raman topografico consente di studiare campioni di grandi dimensioni, irregolari, ruvidi o inclinati, eliminando la necessità di una complessa preparazione del campione. Con la microscopia RISE, sono possibili anche immagini Raman-SEM correlate.

Il sistema di imaging Raman WITec alpha300 offre numerosi vantaggi per applicazioni versatili di ricerca e sviluppo, senza compromessi in termini di confocalità, mantenendo le massime prestazioni spettrali e la massima velocità e fornendo analisi 3D dettagliate di diversi campioni. La semplicità di utilizzo è garantita dalle nuove funzioni software della consolidata WITec SUITE 4 e da altri concetti operativi innovativi. L'imaging Raman è quindi uno strumento flessibile e versatile per l'imaging e l'analisi chimica.

Applicazioni

• Ricerca farmaceutica (distribuzione dei farmaci, sistemi di rilascio dei farmaci, ...)
• Scienze della vita e biomedicina (esami di cellule vive, tessuti, ...)
• Medicina legale (analisi dei materiali, inchiostri, ...)
• Scienza dei materiali e nanotecnologia (materiali 2D, nanoparticelle, analisi delle superfici, ...)
• Rivestimenti e film sottili (formazione e spessore degli strati, profili di profondità, omogeneità...)
• Fotovoltaico e semiconduttori (analisi delle deformazioni, rivestimenti, ...)
• Caratterizzazione dei polimeri (strutture superficiali, cristallinità, ...)