Simultix 15

Il Simultix 15 di Rigaku combina la risoluzione dell'analisi elementare di un WDXRF con la velocità analitica di un EDXRF, rendendolo ideale per le operazioni che trattano un gran numero di campioni solidi, in polvere o liquidi, ad esempio nell'industria del cemento, dell'acciaio e dei minerali. Poiché tutti i canali vengono scansionati simultaneamente e forniscono risultati molto accurati, il Simultix 15 è la soluzione ottimale in termini di tempo di ottenimento del risultato, precisione, affidabilità, basso costo per analisi e longevità del dispositivo. Inoltre, è dotato dell'esclusiva geometria di misura "a tubo dall'alto" di Rigaku, che impedisce ai contaminanti di finire sul tubo o sul rilevatore, garantendo i risultati più accurati e un'elevata affidabilità operativa.

Caratteristiche principali

• Gamma elementare da Be a U
• Potente sorgente da 4 kW (3 kW opzionali)
• Analisi veloce: scansione simultanea di tutti i canali
• "Geometria di misura "tubo dall'alto
• Fino a 40 canali fissi: 30 canali fissi di serie, espandibili opzionalmente a 40 canali
• Automazione: il caricatore di campioni opzionale consente il collegamento a sistemi di preparazione dei campioni automatizzati di terze parti.
• Cristalli sintetici multistrato della serie RX: i nuovi cristalli sintetici multistrato RX85 generano un'intensità superiore di circa il 30% rispetto ai multistrati esistenti per Be-Ka e B-Ka.
• Canale XRD: Consente di effettuare analisi quantitative utilizzando la XRD in aggiunta alla XRF.
• Cristalli a doppia curvatura: l'uso di questi speciali cristalli aumenta l'intensità del segnale rispetto ai cristalli a singola curvatura.
• Software migliorato e di facile utilizzo: l'adozione della barra di flusso del software di guida ZSX ha migliorato la facilità d'uso dell'analisi quantitativa.
• Goniometro a scansione grandangolare (opzionale): Il goniometro opzionale ad ampio range di elementi supporta l'analisi FP standardless e può essere utilizzato per la determinazione qualitativa o quantitativa di elementi non comuni.
• Controllo automatico della pressione (APC): Mantiene costante il vuoto nella camera di misura e migliora significativamente la precisione nell'analisi di elementi leggeri.
• Metodo quantitativo del rapporto di dispersione: se utilizzato insieme al metodo del rapporto di dispersione Compton per l'analisi di minerali e concentrati, è possibile generare valori alfa teorici per la calibrazione del rapporto di dispersione.

Analisi XRF rapida e accurata

Adatto all'analisi di elementi da Be a U in quasi tutte le matrici di campioni, il Simultix 15 esegue la scansione simultanea di fino a 30 canali di elementi (opzionalmente fino a 40), azionati da una sorgente da 4 kW (opzionalmente 3 kW) per la massima velocità e sensibilità. Unitamente a un'interfaccia software intuitiva e di facile utilizzo, ottimizzata per la misurazione e l'analisi, è il sistema ideale per l'analisi elementare ad alta produttività.

A differenza dei dispositivi WDXRF sequenziali, il Simultix 15 esegue la scansione simultanea di ciascuno dei canali fissi ottimizzati, consentendo un'analisi molto più rapida. Il sistema può essere configurato per gli elementi di interesse specifici.

Cambio automatico dei campioni

Per un'analisi XRF ad alta produttività, il Simultix 15 può essere dotato di un sistema di cambio automatico dei campioni (ASC) a 48 posizioni. Può essere configurato con un alimentatore a nastro destro o sinistro alimentato da un sistema di preparazione dei campioni automatizzato di terze parti.

Flessibilità

Per ottenere la massima flessibilità, il Simultix 15 può essere equipaggiato con un goniometro a scansione per la misurazione di altri elementi e con la XRD per l'analisi delle fasi.