
Spettrometri di fluorescenza a raggi X a dispersione di energia:
NEX DE VS
Spettrometro di fluorescenza a raggi X ad alte prestazioni per analisi precise e veloci degli elementi
Applied Rigaku Technologies, Inc.


Il Rigaku NEX DE VS è uno spettrometro di fluorescenza a raggi X a dispersione di energia (EDXRF) ad alte prestazioni con eccitazione diretta che offre un'analisi elementare qualitativa e quantitativa rapida e non distruttiva nel campo del sodio (Na) e dell'uranio (U), combinata con la capacità di analizzare con spot di piccole dimensioni. Consente un'ampia gamma di applicazioni ed è ideale per misurare concentrazioni di elementi nell'intervallo dei ppm fino a concentrazioni elevate in peso per cento. È ideale per l'esplorazione, la ricerca, i test RoHS, l'istruzione, la medicina legale, il monitoraggio industriale e della produzione.
Quando i tempi di analisi o la produttività dei campioni sono critici, il NEX DE VS offre risultati potenti. È dotato di un tubo a raggi X da 60 kV e 12 W, di filtri per tubi singoli e multistrato e di un rivelatore di deriva al silicio (SDD) ad alte prestazioni che supporta velocità di conteggio di oltre 500.000 cps. Le elevate velocità di conteggio garantiscono bassi limiti di rilevazione e un'eccellente risoluzione spettrale. Le misure ad alta produttività possono essere eseguite con una serie di cambiacampioni automatici intercambiabili. Grazie a queste caratteristiche, il NEX DE VS fornisce risultati di analisi di alta precisione con tempi di misura brevissimi. Il NEX DE VS è dotato del software Rigaku QuantEZ® per un controllo rapido e intuitivo dello strumento. L'ottima navigazione nei menu e l'interfaccia di analisi EZ semplificano le procedure di routine e supportano la creazione di nuove applicazioni con l'aiuto di una procedura guidata.
Per l'analisi di piccole macchie, il NEX DE VS dispone di una telecamera ad alta risoluzione e di collimatori automatici che consentono un posizionamento preciso dei campioni per l'analisi di macchie di 1 mm, 3 mm e 10 mm. L'ampia camera di campionamento del dispositivo accoglie campioni con un diametro fino a 30 cm e un'altezza fino a 10 cm. L'interfaccia per l'analisi spot e la telecamera integrata consentono di posizionare facilmente il campione per misurare piccole aree o strutture. Il NEX DE VS è un sistema eccellente per la misurazione di rivestimenti su parti di dimensioni ridotte, per lo screening di piccoli campioni, ad esempio rottami elettronici, o per l'analisi di corpi estranei di composizione sconosciuta.
Sia in produzione che nel laboratorio QC, il NEX DE VS offre prestazioni impareggiabili per l'analisi di massa e di piccoli volumi. Le sue prestazioni analitiche superiori, la flessibilità e la facilità d'uso lo rendono interessante per una gamma sempre più ampia di applicazioni, tra cui il controllo qualità di base (QC), il controllo qualità analitico (AQC), l'assicurazione qualità (QA) o il controllo statistico dei processi come Six Sigma.
Nota: questo articolo è stato tradotto automaticamente. LUMITOS offre questo servizio per rendere disponibili le informazioni sui prodotti in più lingue. Poiché questo articolo è stato creato automaticamente, sono possibili errori e deviazioni dall'originale. La presentazione originale in Tedesco può essere trovata qui.

1
Richiedete subito informazioni su NEX DE VS.

Spettrometri di fluorescenza a raggi X a dispersione di energia: NEX DE VS
Spettrometro di fluorescenza a raggi X ad alte prestazioni per analisi precise e veloci degli elementi