Spettrometri a fluorescenza a raggi X:
SPECTRO XEPOS
Spettrometro di fluorescenza a raggi X a dispersione di energia (XRF/XRF) per le esigenze più elevate
Lo SPECTRO XEPOS rappresenta un salto di qualità nella tecnologia della fluorescenza a raggi X a dispersione di energia (ED-XRF/ED-XRF). È il leader dell'ultima generazione di strumenti ED-XRF di SPECTRO e consente progressi rivoluzionari nell'analisi multi-elemento di diverse concentrazioni, fino agli elementi in traccia. Grazie ai nuovi sviluppi della tecnologia di eccitazione e del rivelatore, lo SPECTRO XEPOS offre un'eccezionale sensibilità di misura e limiti di rilevamento estremamente bassi, con notevoli miglioramenti in termini di precisione e accuratezza.
Lo SPECTRO XEPOS dimostra i suoi punti di forza soprattutto nelle attività più impegnative, sia che si tratti di analisi sommarie rapide o di controlli di qualità precisi. È predestinato all'uso in un'ampia gamma di settori, come la geologia, l'industria mineraria, l'ambiente, il monitoraggio dei rifiuti, la ricerca e la scienza.
Le diverse varianti di modello dello SPECTRO XEPOS ottimizzano le prestazioni per i gruppi di elementi rilevanti nelle matrici corrispondenti.
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Spettrometri a fluorescenza a raggi X: SPECTRO XEPOS
Spettrometro di fluorescenza a raggi X a dispersione di energia (XRF/XRF) per le esigenze più elevate
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