Caratterizzazione nanomeccanica con AFM
Misurazione del modulo elastico, delle proprietà viscoelastiche, dell'attrito e dell'adesione su scala nanometrica
La capacità di caratterizzare una varietà di proprietà su scala nanometrica insieme alla topografia in qualsiasi ambiente è la chiave della potenza e dell'ampia applicabilità della microscopia a forza atomica. Mentre l'accesso alle proprietà nel regno delle misure elettriche, termiche, chimiche ed elettrochimiche è comune, il microscopio a forza atomica (AFM) è meglio conosciuto per la sua capacità unica di misurare le proprietà meccaniche.
Questa nota applicativa fornisce una panoramica della caratterizzazione nanomeccanica con un AFM, concentrandosi sulle misure delle proprietà meccaniche più ampiamente applicabili su scala nanometrica: modulo elastico, proprietà viscoelastiche, attrito e adesione. Le misure descritte vanno oltre il contrasto meccanico generale per fornire informazioni semiquantitative e quantitative sulle singole proprietà meccaniche.
I lettori possono aspettarsi di ottenere un quadro di riferimento per la categorizzazione e la comprensione delle varie modalità meccaniche AFM.Vengono fornite descrizioni di ogni categoria di proprietà meccanica, accessibili anche ai principianti dell'AFM, e vengono presentati esempi di ogni categoria di proprietà, con campioni e dati reali.
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