Spectromètre TXRF : Limites de détection inférieures au ppb et analyse 24 heures sur 24, 7 jours sur 7

Coûts d'exploitation minimaux car aucun gaz, milieu ou équipement de laboratoire n'est nécessaire

Le spectromètre TXRF S4 T-STAR offre les limites de détection les plus basses dans la gamme sub-ppb ✓ Le TXRF offre les coûts d'exploitation les plus bas et ne nécessite pas de gaz, de média ou d'infrastructure de laboratoire ✓ Le système est optimisé pour un fonctionnement 24/7 dans l'analyse de routine industrielle ✓

Analyse rapide et précise des oligo-éléments en déplacement

Technologie TXRF pour un minimum d'échantillons et un maximum d'efficacité

Analyse simultanée de traces de plusieurs éléments, y compris les halogénures ✓ Analyse des plus petites quantités d'échantillons de l'ordre du nanogramme ou du microgramme ✓ Quantification simple à l'aide d'un étalon interne sans étalonnage quotidien ✓

Analyse intelligente par rayons X pour la recherche et l'assurance qualité

Maximisez votre productivité avec des processus automatisés et de nombreux accessoires

Le SmartLab® SE est un diffractomètre à rayons X polyvalent avec guidage intelligent intégré. Il offre un perfectionnement continu des caractéristiques

Découvrez le potentiel des batteries grâce à des instruments de pointe

Faites passer vos recherches sur les batteries à la vitesse supérieure grâce aux technologies de pointe en matière de rayons X

Analyse approfondie des matériaux ✓ Contrôle de la qualité des matériaux ✓ Imagerie 3D pour l'efficacité ✓

Des analyses élémentaires précises de Na à U - rapides et efficaces

Le Rigaku NEX DE VS est un spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) haute performance à excitation directe qui permet une analyse

Analyse élémentaire au niveau du ppb pour des résultats précis

Le Rigaku NEX CG II est un spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) de paillasse multi-éléments et multi-usages qui effectue des

Alternative quantitative aux encres d'essai : le goniomètre portable à angle de contact PCA 200

Détermination mobile et sur place de l'énergie de surface, sur des échantillons de toute taille

En tant qu'appareil portatif, le PCA 200 est mobile et peut être utilisé directement sur site pour le contrôle de la qualité ✓ Évaluation et affichage directs des angles de contact et de l'énergie de surface sur l'écran tactile ✓Contrôle de surface non destructif de pièces de production et de matériaux de toute taille ✓

Le nouveau stéréomicroscope combine haute résolution et grande profondeur de champ

Des images plus claires vous permettent d'obtenir des résultats fiables plus rapidement

Une meilleure efficacité ✓ Des résultats fiables ✓ Observer les détails pertinents plus rapidement ✓

Microscopie électronique à balayage : des systèmes flexibles pour la recherche et l'industrie

De l'appareil de table au FEG-REM : des solutions sur mesure pour des analyses précises

MEB allant de l'appareil à émission de champ haut de gamme à ultra-haute résolution à l'unité de bureau facile d'accès ✓ Instruments flexibles à longue durée de vie, faciles à manipuler, de dimensions compactes et offrant une excellente acquisition de données ✓ Solutions de service efficaces et fiables et accessoires personnalisables (EDS, WDS, EBSD, GatherX, etc.) ✓

Une technologie XRF avancée pour de meilleures décisions

Analyse rapide et précise des matériaux pour vos besoins complexes

Capacités analytiques les plus élevées ✓ Confortable pour les tests tout au long de la journée ✓ Flux de travail productif ✓