Acheter des produits (fabrication de semi-conducteurs)
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DM8000 M & DM12000 M de Leica
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Système d'inspection à haut débit
Conception prévient accumulation poussière coins, courants, pour chambres analyse et inspection prop ✓ Résolution latérale maximale avec l'objectif UV 150X ✓ L'objectif USP 0,7X permet de voir un champ plus large, ce qui réduit le temps d'analyse ✓
DVM6 de Leica
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