Acheter des produits (analyse des défaillances)
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Emspira 3 de Leica
Inspection simple et inspirante
Inspection avec un seul système
Gagnez du temps grâce à l’identification rapide des échantillons ✓ Mesurez et annotez directement pendant l'inspection visuelle sans PC ✓ Obtenez des images nettes avec moins d’efforts manuels ✓
DM8000 M & DM12000 M de Leica
Voir plus, Détecter plus rapidement
Système d'inspection à haut débit
Conception prévient accumulation poussière coins, courants, pour chambres analyse et inspection prop ✓ Résolution latérale maximale avec l'objectif UV 150X ✓ L'objectif USP 0,7X permet de voir un champ plus large, ce qui réduit le temps d'analyse ✓
DMi8 A de Leica
Microscope inversé pour applications industrielles Leica DMi8
Voir plus de votre échantillon
Passez du macro (35 mm) au nano (1 nm) en un clic ✓ Voyez plus de détails avec l'éclairage unique UC-3D ✓ Utilisation intuitive pour un travail plus rapide ✓
DVM6 de Leica
Ne cherchez plus. Trouvez!
Rapide, fiable et facile à utiliser
Explorez en toute flexibilité ✓ Analysez facilement vos échantillons ✓ Disposez de résultats fiables ✓
DM6 M de Leica
Microscope droits pour l'analyse des matériaux
Tous les réglages sont en mémoire
Commande de mise au point à 2 vitesses, motorisée et de haute précision ✓ Tourelle porte-objectifs motorisée à 6 ou 7 positions ✓ Leica DM6 M + logiciel = système d'inspection idéal pour précision et répétabilité ✓
Apreo 2 Scanning Electron Microscope de Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 : MEB FEG Haute Performance pour l’Imagerie et l’Analyse des Matériaux
Une polyvalence inégalée grâce à la technologie ChemiSEM
MEB haute performance pour une résolution nanométrique ou sub-nanométrique complète ✓ Détecteur de rétrodiffusion T1 dans la colonne pour un contraste sensible des matériaux à taux TV ✓ Excellentes performances à grande distance de travail (10 mm) ✓
JEOL SEM Series de JEOL
Microscopie électronique à balayage : des systèmes flexibles pour la recherche et l'industrie
De l'appareil de table au FEG-REM : des solutions sur mesure pour des analyses précises
MEB allant de l'appareil à émission de champ haut de gamme à ultra-haute résolution à l'unité de bureau facile d'accès ✓ Instruments flexibles à longue durée de vie, faciles à manipuler, de dimensions compactes et offrant une excellente acquisition de données ✓ Solutions de service efficaces et fiables et accessoires personnalisables (EDS, WDS, EBSD, GatherX, etc.) ✓
ALPHA II de Bruker
L'analyse chimique en toute simplicité : système FT-IR compact
Augmentez l'efficacité de vos analyses de routine grâce à une technologie facile à utiliser
Le logiciel OPUS TOUCH simplifie l'expérience de l'utilisateur ✓ La technologie RockSolid" garantit une fiabilité et une durabilité maximales ✓ Le design compact s'adapte parfaitement à votre application ✓
LUMOS II de Bruker
La microscopie FT-IR sur la voie rapide - le LUMOS II
Un microscope infrarouge pour tous
Notre objectif : une qualité de données et une vitesse de mesure maximales ✓ Un concept d'utilisation simple : les utilisateurs sont formés en quelques minutes ✓ Une durabilité intelligente : aucun consommable coûteux n'est nécessaire ✓ Un concept d'utilisation simple : les utilisateurs sont formés en quelques minutes ✓ Une durabilité intelligente : aucun consommable coûteux
Battery Analysis Guide de PerkinElmer
Améliorer les piles grâce à une analyse complète des matériaux
Une analyse approfondie pour plus de performance et de sécurité
Analyse et test des cathodes et des anodes - y compris l'analyse des défaillances des batteries ✓ Caractérisation des séparateurs, des membranes et des liants ✓ Analyse des électrolytes - telle que la composition en solvants des électrolytes avec ICP-OES et GC/MS ✓
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Emspira 3 de Leica
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Système d'inspection à haut débit
DMi8 A de Leica
Microscope inversé pour applications industrielles Leica DMi8
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DM6 M de Leica
Microscope droits pour l'analyse des matériaux
Tous les réglages sont en mémoire
JEOL SEM Series de JEOL
Microscopie électronique à balayage : des systèmes flexibles pour la recherche et l'industrie
De l'appareil de table au FEG-REM : des solutions sur mesure pour des analyses précises
LUMOS II de Bruker
La microscopie FT-IR sur la voie rapide - le LUMOS II
Un microscope infrarouge pour tous
Apreo 2 Scanning Electron Microscope de Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 : MEB FEG Haute Performance pour l’Imagerie et l’Analyse des Matériaux
Une polyvalence inégalée grâce à la technologie ChemiSEM
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Emspira 3 de Leica
Inspection simple et inspirante
Inspection avec un seul système
DM8000 M & DM12000 M de Leica
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Système d'inspection à haut débit
DMi8 A de Leica
Microscope inversé pour applications industrielles Leica DMi8
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DM6 M de Leica
Microscope droits pour l'analyse des matériaux
Tous les réglages sont en mémoire
ALPHA II de Bruker
L'analyse chimique en toute simplicité : système FT-IR compact
Augmentez l'efficacité de vos analyses de routine grâce à une technologie facile à utiliser
JEOL SEM Series de JEOL
Microscopie électronique à balayage : des systèmes flexibles pour la recherche et l'industrie
De l'appareil de table au FEG-REM : des solutions sur mesure pour des analyses précises
LUMOS II de Bruker
La microscopie FT-IR sur la voie rapide - le LUMOS II
Un microscope infrarouge pour tous
Apreo 2 Scanning Electron Microscope de Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 : MEB FEG Haute Performance pour l’Imagerie et l’Analyse des Matériaux
Une polyvalence inégalée grâce à la technologie ChemiSEM
Battery Analysis Guide de PerkinElmer
Améliorer les piles grâce à une analyse complète des matériaux
Une analyse approfondie pour plus de performance et de sécurité
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