Acheter des produits (analyse des défaillances)
Votre aperçu pour l’achat de produits : découvrez tous les produits et fournisseurs (analyse des défaillances). Pour connaître les prix, il vous suffit de demander un devis. Conseil : sélectionnez un accès rapide ci-dessous afin d'afficher des produits filtrés par catégorie de produits ou fournisseur.
Acheter des produits (analyse des défaillances)
Emspira 3 de Leica
Inspection simple et inspirante
Inspection avec un seul système
Gagnez du temps grâce à l’identification rapide des échantillons ✓ Mesurez et annotez directement pendant l'inspection visuelle sans PC ✓ Obtenez des images nettes avec moins d’efforts manuels ✓
DM8000 M & DM12000 M de Leica
Voir plus, Détecter plus rapidement
Système d'inspection à haut débit
Conception prévient accumulation poussière coins, courants, pour chambres analyse et inspection prop ✓ Résolution latérale maximale avec l'objectif UV 150X ✓ L'objectif USP 0,7X permet de voir un champ plus large, ce qui réduit le temps d'analyse ✓
DMi8 A de Leica
Microscope inversé pour applications industrielles Leica DMi8
Voir plus de votre échantillon
Passez du macro (35 mm) au nano (1 nm) en un clic ✓ Voyez plus de détails avec l'éclairage unique UC-3D ✓ Utilisation intuitive pour un travail plus rapide ✓
DVM6 de Leica
Ne cherchez plus. Trouvez!
Rapide, fiable et facile à utiliser
Explorez en toute flexibilité ✓ Analysez facilement vos échantillons ✓ Disposez de résultats fiables ✓
DM6 M de Leica
Microscope droits pour l'analyse des matériaux
Tous les réglages sont en mémoire
Commande de mise au point à 2 vitesses, motorisée et de haute précision ✓ Tourelle porte-objectifs motorisée à 6 ou 7 positions ✓ Leica DM6 M + logiciel = système d'inspection idéal pour précision et répétabilité ✓
Apreo 2 Scanning Electron Microscope de Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 : MEB FEG Haute Performance pour l’Imagerie et l’Analyse des Matériaux
Une polyvalence inégalée grâce à la technologie ChemiSEM
MEB haute performance pour une résolution nanométrique ou sub-nanométrique complète ✓ Détecteur de rétrodiffusion T1 dans la colonne pour un contraste sensible des matériaux à taux TV ✓ Excellentes performances à grande distance de travail (10 mm) ✓
JEOL SEM Series de JEOL
Microscopie électronique à balayage : des systèmes flexibles pour la recherche et l'industrie
De l'appareil de table au FEG-REM : des solutions sur mesure pour des analyses précises
MEB allant de l'appareil à émission de champ haut de gamme à ultra-haute résolution à l'unité de bureau facile d'accès ✓ Instruments flexibles à longue durée de vie, faciles à manipuler, de dimensions compactes et offrant une excellente acquisition de données ✓ Solutions de service efficaces et fiables et accessoires personnalisables (EDS, WDS, EBSD, GatherX, etc.) ✓
ALPHA II de Bruker
L'analyse chimique en toute simplicité : système FT-IR compact
Augmentez l'efficacité de vos analyses de routine grâce à une technologie facile à utiliser
Le logiciel OPUS TOUCH simplifie l'expérience de l'utilisateur ✓ La technologie RockSolid" garantit une fiabilité et une durabilité maximales ✓ Le design compact s'adapte parfaitement à votre application ✓
LUMOS II de Bruker
La microscopie FT-IR sur la voie rapide - le LUMOS II
Un microscope infrarouge pour tous
Notre objectif : une qualité de données et une vitesse de mesure maximales ✓ Un concept d'utilisation simple : les utilisateurs sont formés en quelques minutes ✓ Une durabilité intelligente : aucun consommable coûteux n'est nécessaire ✓ Un concept d'utilisation simple : les utilisateurs sont formés en quelques minutes ✓ Une durabilité intelligente : aucun consommable coûteux
Battery Analysis Guide de PerkinElmer
Améliorer les piles grâce à une analyse complète des matériaux
Une analyse approfondie pour plus de performance et de sécurité
Analyse et test des cathodes et des anodes - y compris l'analyse des défaillances des batteries ✓ Caractérisation des séparateurs, des membranes et des liants ✓ Analyse des électrolytes - telle que la composition en solvants des électrolytes avec ICP-OES et GC/MS ✓
Choisir les produits par catégorie
Emspira 3 de Leica
Inspection simple et inspirante
Inspection avec un seul système
DM8000 M & DM12000 M de Leica
Voir plus, Détecter plus rapidement
Système d'inspection à haut débit
DMi8 A de Leica
Microscope inversé pour applications industrielles Leica DMi8
Voir plus de votre échantillon
DM6 M de Leica
Microscope droits pour l'analyse des matériaux
Tous les réglages sont en mémoire
JEOL SEM Series de JEOL
Microscopie électronique à balayage : des systèmes flexibles pour la recherche et l'industrie
De l'appareil de table au FEG-REM : des solutions sur mesure pour des analyses précises
Apreo 2 Scanning Electron Microscope de Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 : MEB FEG Haute Performance pour l’Imagerie et l’Analyse des Matériaux
Une polyvalence inégalée grâce à la technologie ChemiSEM
LUMOS II de Bruker
La microscopie FT-IR sur la voie rapide - le LUMOS II
Un microscope infrarouge pour tous
Les fournisseurs pour l’achat de produits (analyse des défaillances)
Acheter des produits pour le laboratoire ou le processus de production
ALPHA II de Bruker
L'analyse chimique en toute simplicité : système FT-IR compact
Augmentez l'efficacité de vos analyses de routine grâce à une technologie facile à utiliser
Emspira 3 de Leica
Inspection simple et inspirante
Inspection avec un seul système
DM8000 M & DM12000 M de Leica
Voir plus, Détecter plus rapidement
Système d'inspection à haut débit
DMi8 A de Leica
Microscope inversé pour applications industrielles Leica DMi8
Voir plus de votre échantillon
DM6 M de Leica
Microscope droits pour l'analyse des matériaux
Tous les réglages sont en mémoire
JEOL SEM Series de JEOL
Microscopie électronique à balayage : des systèmes flexibles pour la recherche et l'industrie
De l'appareil de table au FEG-REM : des solutions sur mesure pour des analyses précises
LUMOS II de Bruker
La microscopie FT-IR sur la voie rapide - le LUMOS II
Un microscope infrarouge pour tous
Apreo 2 Scanning Electron Microscope de Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 : MEB FEG Haute Performance pour l’Imagerie et l’Analyse des Matériaux
Une polyvalence inégalée grâce à la technologie ChemiSEM
Battery Analysis Guide de PerkinElmer
Améliorer les piles grâce à une analyse complète des matériaux
Une analyse approfondie pour plus de performance et de sécurité
Vous n'avez pas encore trouvé le bon produit ?
La recherche de produits chemeurope.com
Commencez dès maintenant votre recherche ciblée avec une large sélection d'options de filtrage. Ici, vous pouvez facilement trouver le produit correspondant à votre recherche, y compris des informations sur le fabricant, des possibilités de demande de devis et de téléchargement.
