JEOL SEM Series
Toujours le bon SEM : caractérisation de la structure de la surface et analyse élémentaire pour toutes les applications
Imagez et caractérisez la dernière génération de nanomatériaux, révélez des détails biologiques complexes, analysez des preuves médico-légales, effectuez des analyses de défaillance, contrôlez la qualité !
Le microscope électronique à balayage est l'outil idéal pour une grande variété de disciplines dans les domaines de la science, de la médecine, de l'ingénierie et de la fabrication. Lorsque des résolutions de l'ordre du nm à l'infra-nm sont requises, les microscopes électroniques à balayage JEOL répondent à tous les besoins de la R&D moderne. Grâce à leur flexibilité en matière d'expansion et à leur durée de vie exceptionnelle, les microscopes électroniques à balayage JEOL sont la solution parfaite pour l'assurance qualité et le développement de produits dans l'industrie et le monde universitaire. De notre MEB à émission de champ le plus puissant avec une résolution, un grossissement et une flexibilité analytique ultimes, à notre MEB d'entrée de gamme facile à utiliser, JEOL propose le MEB parfait pour répondre à vos applications.
La dernière génération de MEB JEOL intègre le plus haut niveau de technologie intelligente. Ces MEB de nouvelle génération facilitent l'acquisition de données pour tous les types d'échantillons.
Laissez-vous surprendre par le nouveau niveau d'automatisation qui facilite l'utilisation et permet une imagerie et une analyse rapides et de haute résolution.
Note : Cet article a été traduit automatiquement. LUMITOS offre ce service pour rendre les informations sur les produits disponibles dans plus de langues. Comme cet article a été créé de manière automatisée, des erreurs et des différences par rapport à l'original sont possibles. Vous trouverez la présentation originale en Anglais ici.
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