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JEOL SEM Series
Toujours le bon SEM : caractérisation de la structure de la surface et analyse élémentaire pour toutes les applications
Les MEB vont de l'appareil d'émission de champ haut de gamme à ultra-haute résolution à l'appareil de bureau facile d'accès.
Instruments flexibles à longue durée de vie, faciles à manipuler, de dimensions compactes et offrant une excellente acquisition de données
Solutions de service efficaces et fiables et accessoires personnalisables (EDS, WDS, EBSD, GatherX, etc.)
Vous recherchez un outil polyvalent et indispensable pour votre R&D ? Les MEB JEOL dépasseront vos attentes !
Imagez et caractérisez la dernière génération de nanomatériaux, révélez des détails biologiques complexes, analysez des preuves médico-légales, effectuez des analyses de défaillance, contrôlez la qualité !
Le microscope électronique à balayage est l'outil idéal pour une grande variété de disciplines dans les domaines de la science, de la médecine, de l'ingénierie et de la fabrication. Lorsque des résolutions de l'ordre du nm à l'infra-nm sont requises, les microscopes électroniques à balayage JEOL répondent à tous les besoins de la R&D moderne. Grâce à leur flexibilité en matière d'expansion et à leur durée de vie exceptionnelle, les microscopes électroniques à balayage JEOL sont la solution parfaite pour l'assurance qualité et le développement de produits dans l'industrie et le monde universitaire. De notre MEB à émission de champ le plus puissant avec une résolution, un grossissement et une flexibilité analytique ultimes, à notre MEB d'entrée de gamme facile à utiliser, JEOL propose le MEB parfait pour répondre à vos applications.
La dernière génération de MEB JEOL intègre le plus haut niveau de technologie intelligente. Ces MEB de nouvelle génération facilitent l'acquisition de données pour tous les types d'échantillons.
Laissez-vous surprendre par le nouveau niveau d'automatisation qui facilite l'utilisation et permet une imagerie et une analyse rapides et de haute résolution.
Note : Cet article a été traduit automatiquement. LUMITOS offre ce service pour rendre les informations sur les produits disponibles dans plus de langues. Comme cet article a été créé de manière automatisée, des erreurs et des différences par rapport à l'original sont possibles. Vous trouverez la présentation originale en Anglais ici.
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Tous les MEB JEOL peuvent être adaptés de manière optimale aux applications respectives, ce qui leur permet de répondre à toutes les demandes.
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MEB à émission de champ : JSM-IT800Ultrahigh Resolution FE SEM with the most advanced high-resolution analytical technology available today
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Le nouveau JSM-IT210 est un microscope compact doté d'un flux de travail facile et automatisé, qui guide les nouveaux opérateurs pas à pas de l'introduction de l'échantillon à l'imagerie idéale.
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MEB à émission de champ à haute résolution et à grande chambre. MEB à émission de champ compact et polyvalent offrant des performances intelligentes, flexibles et puissantes à un excellent rapport qualité-prix.
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Incorpore une technologie avancée et des fonctions simples, permettant aux utilisateurs, quel que soit leur niveau de compétence, d'obtenir des images MEB et des analyses élémentaires exceptionnelles en quelques minutes.
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