NEX DE VS

Le Rigaku NEX DE VS est un spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) haute performance à excitation directe qui permet une analyse élémentaire qualitative et quantitative rapide et non destructive du sodium (Na) à l'uranium (U), avec des capacités d'analyse avec des masques de faible taille. Le NEX DE VS est utilisé dans un large éventail d'applications et d'industries et constitue un outil idéal pour mesurer de faibles niveaux de concentration, du ppm jusqu'à des concentrations élevées en pourcentage massique. Il est bien adapté à l'exploration, à la recherche, à l'inspection RoHS en vrac, à l'éducation, à la criminalistique et aux applications industrielles et de surveillance de la production.

Le NEX DE VS fournit des résultats de haute performance lorsque le temps d'analyse ou le débit d'échantillons est critique. Il est équipé d'un tube à rayons X de 60 kV et 12 W, de filtres tubulaires simples et multicouches et d'un détecteur de dérive au silicium (SDD) très performant qui permet des taux de comptage supérieurs à 500 000 cps. Les taux de comptage élevés permettent d'obtenir des limites de détection basses et une excellente résolution spectrale, et les mesures à haut débit sont obtenues grâce à divers passeurs automatiques d'échantillons interchangeables. Ces caractéristiques permettent au NEX DE VS de fournir des résultats analytiques de la plus haute précision dans les temps de mesure les plus courts possibles. En outre, le NEX DE VS est équipé du logiciel QuantEZ^® conçu pour optimiser le temps des utilisateurs. Le contrôle intuitif de l'instrument, la navigation simple dans les menus et l'interface EZ Analysis simplifient les opérations de routine et permettent aux opérateurs de créer de nouvelles applications à l'aide d’un logiciel ayant une simple interface type arborescence.

Pour les besoins d'analyse avec de petit diaphragme, NEX DE VS est équipé d'une caméra haute résolution et d’un passeur de collimateurs automatisés qui permettent de positionner avec précision les échantillons pour analyser des diaphragme de 1 mm, 3 mm et 10 mm. La grande chambre à échantillons de l'instrument peut accueillir des échantillons d'un diamètre allant jusqu'à 30 cm et d'une hauteur de 10 cm. L'interface d'analyse ponctuelle et la caméra rétroéclairée intégrée permettent de positionner facilement les échantillons pour les mesures aux petits diaphragmes. Le NEX DE VS est un excellent système pour mesurer les revêtements de petites pièces, examiner de petits échantillons dans le cadre d'initiatives relatives aux déchets électroniques ou étudier l'identification de matières étrangères de composition inconnue.

Que ce soit en usine ou dans un laboratoire de contrôle de la qualité, le NEX DE VS offre des performances inégalées pour l'analyse des échantillons en vrac et des petits échantillons. La puissance analytique supérieure, la flexibilité et la facilité d'utilisation ajoutent à son attrait pour une gamme toujours plus large d'applications, y compris le contrôle qualité de base (QC) ou ses variantes plus sophistiquées, telles que le contrôle qualité analytique (AQC), l'assurance qualité (QA), ou le contrôle statistique des processus comme Six Sigma.