Amélioration de l'analyse des surfaces de silicium

Des progrès pour le photovoltaïque par exemple

03.04.2025 - Une nouvelle méthode d'analyse des surfaces de silicium rugueuses combine la microscopie à force atomique (AFM) et la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS). Les erreurs dues à la rugosité de la surface peuvent ainsi être mieux corrigées. Cette méthode donne des résultats plus précis, ...