Comprar produtos de Leica Para Análise De Wafer
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DM8000 M & DM12000 M por Leica
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Sistemas de inspeção para um rendimento máximo
O design evita a acumulação de poeiras e os fluxos de canto para uma câmara de análise e inspeção limpa ✓ Resolução lateral máxima com a objetiva UV 150X ✓ A objetiva USP 0,7x permite um maior campo de visão e encurta o tempo de análise ✓
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