Comprar produtos Para Análise De Falhas

Compre produtos da maneira mais fácil: Descubra todos os produtos e fornecedores para análise de falhas. Descubra facilmente os preços dos produtos solicitando uma cotação. Dica: Selecione uma entrada rápida abaixo para visualizar produtos selecionada por categoria do produto ou Fornecedor.

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ALPHA II por Bruker

Análise química facilitada: sistema FT-IR compacto

Aumente a eficiência das suas análises de rotina com tecnologia de fácil utilização

O software OPUS TOUCH simplifica a experiência do utilizador ✓ A tecnologia "RockSolid" garante a máxima fiabilidade e durabilidade ✓ O design compacto adapta-se perfeitamente à sua aplicação ✓

espectrômetros FTIR análise de falhas análise de danos
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LUMOS II por Bruker

Microscopia FT-IR na via rápida - o LUMOS II

Um microscópio de infravermelhos para todos

O nosso foco: a mais elevada qualidade de dados e velocidade de medição ✓ Conceito de funcionamento simples: os utilizadores recebem formação em minutos ✓ Sustentabilidade inteligente: não requer consumíveis dispendiosos ✓

microscópios FT-IR análise de falhas análise biofarmacêutica
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DMi8 A por Leica

Microscópio invertido Leica DMi8 para aplicações industriais

Ver mais da amostra

Pode mudar de visualização macro (35 mm) para nano (1 nm) com um simples clique ✓ Maior detalhe com a iluminação UC-3D exclusiva ✓ Manuseamento intuitivo ✓

microscópios invertidos análise de falhas análise de danos
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DVM6 por Leica

NÃO PROCUREM, ENCONTREM!

Rápido, fiável e fácil de utilizar

Investigação flexível ✓ Análise rápida e fácil das suas amostras ✓ Resultados fiáveis ✓

microscópios 3D análise de falhas análise de partículas
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DM8000 M & DM12000 M por Leica

Ver mais, reconhecer mais depressa

Sistemas de inspeção para um rendimento máximo

O design evita a acumulação de poeiras e os fluxos de canto para uma câmara de análise e inspeção limpa ✓ Resolução lateral máxima com a objetiva UV 150X ✓ A objetiva USP 0,7x permite um maior campo de visão e encurta o tempo de análise ✓

Optische Inspektionssysteme análise de falhas análise de erros
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Emspira 3 por Leica

Inspecções simples e inspiradoras

Inspeção com um único sistema

Poupe tempo com a rápida identificação de amostras ✓ Meça e documente diretamente durante a inspeção visual - sem um PC ✓ Imagens nítidas com menos esforço manual ✓

microscópios digitais análise de falhas controle de qualidade analítica
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DM6 M por Leica

Microscópio vertical de materiais

Tudo pronto e guardado

Acionamento motorizado e de alta precisão com 2 velocidades ✓ Nariz motorizado 6x ou 7x ✓ A Leica DM6 M + software = sistema de inspeção ideal para máxima precisão e repetibilidade ✓

microscópios análise de falhas análise elementar
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CT Lab HV por Rigaku

Scanner de TC de alta tensão e alta resolução para investigação não destrutiva e inspeção industrial

O CT Lab HV permite visualizar a estrutura interna de amostras pequenas e grandes de forma não destrutiva e com alta resolução.

sistemas de tomografia computadorizada análise de falhas inspeções
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Apreo 2 Scanning Electron Microscope por Thermo Fisher Scientific

Apreo 2 SEM: Microscópio eletrónico de varrimento com propriedades de resolução impressionantes

Versatilidade sem igual graças à tecnologia ChemiSEM

*Desempenho completo* na gama nanométrica ou sub-nanométrica, como nanopartículas, pós ✓ Automação avançada, operação simples, resultados rápidos ✓ Extrema flexibilidade no manuseamento de uma vasta gama de tipos de amostras ✓

microscópios eletrônicos de varredura análise de falhas análise química
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JEOL SEM Series por JEOL

Microscopia eletrónica de varrimento: Sistemas flexíveis para a investigação e a indústria

Dos aparelhos de bancada ao FEG-SEM: soluções personalizadas para análises precisas

Vasta gama de utilizadores, desde dispositivos de secretária de nível básico até emissores de campo de alta resolução ✓ Dispositivos de medição duradouros, excelente aquisição de dados, dimensões compactas ✓ Contratos de serviço eficientes e fiáveis e opções de acessórios personalizados (EDX, WDX, EBSD, GatherX, etc.) ✓

análise de falhas análise ambiental análise da estrutura
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Comprar Produtos para o laboratório ou para o processo de produção

DMi8 A

DMi8 A por Leica

Microscópio invertido Leica DMi8 para aplicações industriais

Ver mais da amostra

microscópios invertidos
DVM6

DVM6 por Leica

NÃO PROCUREM, ENCONTREM!

Rápido, fiável e fácil de utilizar

microscópios 3D
DM8000 M & DM12000 M

DM8000 M & DM12000 M por Leica

Ver mais, reconhecer mais depressa

Sistemas de inspeção para um rendimento máximo

Optische Inspektionssysteme
ALPHA II

ALPHA II por Bruker

Análise química facilitada: sistema FT-IR compacto

Aumente a eficiência das suas análises de rotina com tecnologia de fácil utilização

espectrômetros FTIR
LUMOS II

LUMOS II por Bruker

Microscopia FT-IR na via rápida - o LUMOS II

Um microscópio de infravermelhos para todos

microscópios FT-IR
Emspira 3

Emspira 3 por Leica

Inspecções simples e inspiradoras

Inspeção com um único sistema

microscópios digitais
DM6 M

DM6 M por Leica

Microscópio vertical de materiais

Tudo pronto e guardado

microscópios
Battery Analysis Guide

Battery Analysis Guide por PerkinElmer

Tornar as baterias melhores - através de análises de materiais abrangentes

Análise aprofundada para um melhor desempenho e segurança

literatura técnica
SpectraGenius

SpectraGenius por S.T.Japan

O novo software independente do fabricante para a sua pesquisa de espetro - SpectraGenius

Fácil de utilizar e fiável - O software engenhoso para uma identificação de substâncias bem sucedida

bancos de dados espectrais
JEOL SEM Series

JEOL SEM Series por JEOL

Microscopia eletrónica de varrimento: Sistemas flexíveis para a investigação e a indústria

Dos aparelhos de bancada ao FEG-SEM: soluções personalizadas para análises precisas

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