Comprar produtos Para Análise De Falhas
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ALPHA II por Bruker
Análise química facilitada: sistema FT-IR compacto
Aumente a eficiência das suas análises de rotina com tecnologia de fácil utilização
O software OPUS TOUCH simplifica a experiência do utilizador ✓ A tecnologia "RockSolid" garante a máxima fiabilidade e durabilidade ✓ O design compacto adapta-se perfeitamente à sua aplicação ✓

LUMOS II por Bruker
Microscopia FT-IR na via rápida - o LUMOS II
Um microscópio de infravermelhos para todos
O nosso foco: a mais elevada qualidade de dados e velocidade de medição ✓ Conceito de funcionamento simples: os utilizadores recebem formação em minutos ✓ Sustentabilidade inteligente: não requer consumíveis dispendiosos ✓

DMi8 A por Leica
Microscópio invertido Leica DMi8 para aplicações industriais
Ver mais da amostra
Pode mudar de visualização macro (35 mm) para nano (1 nm) com um simples clique ✓ Maior detalhe com a iluminação UC-3D exclusiva ✓ Manuseamento intuitivo ✓

DVM6 por Leica
NÃO PROCUREM, ENCONTREM!
Rápido, fiável e fácil de utilizar
Investigação flexível ✓ Análise rápida e fácil das suas amostras ✓ Resultados fiáveis ✓

DM8000 M & DM12000 M por Leica
Ver mais, reconhecer mais depressa
Sistemas de inspeção para um rendimento máximo
O design evita a acumulação de poeiras e os fluxos de canto para uma câmara de análise e inspeção limpa ✓ Resolução lateral máxima com a objetiva UV 150X ✓ A objetiva USP 0,7x permite um maior campo de visão e encurta o tempo de análise ✓

Emspira 3 por Leica
Inspecções simples e inspiradoras
Inspeção com um único sistema
Poupe tempo com a rápida identificação de amostras ✓ Meça e documente diretamente durante a inspeção visual - sem um PC ✓ Imagens nítidas com menos esforço manual ✓

DM6 M por Leica
Microscópio vertical de materiais
Tudo pronto e guardado
Acionamento motorizado e de alta precisão com 2 velocidades ✓ Nariz motorizado 6x ou 7x ✓ A Leica DM6 M + software = sistema de inspeção ideal para máxima precisão e repetibilidade ✓

CT Lab HV por Rigaku
Scanner de TC de alta tensão e alta resolução para investigação não destrutiva e inspeção industrial
O CT Lab HV permite visualizar a estrutura interna de amostras pequenas e grandes de forma não destrutiva e com alta resolução.

Apreo 2 Scanning Electron Microscope por Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 SEM: Microscópio eletrónico de varrimento com propriedades de resolução impressionantes
Versatilidade sem igual graças à tecnologia ChemiSEM
*Desempenho completo* na gama nanométrica ou sub-nanométrica, como nanopartículas, pós ✓ Automação avançada, operação simples, resultados rápidos ✓ Extrema flexibilidade no manuseamento de uma vasta gama de tipos de amostras ✓

JEOL SEM Series por JEOL
Microscopia eletrónica de varrimento: Sistemas flexíveis para a investigação e a indústria
Dos aparelhos de bancada ao FEG-SEM: soluções personalizadas para análises precisas
Vasta gama de utilizadores, desde dispositivos de secretária de nível básico até emissores de campo de alta resolução ✓ Dispositivos de medição duradouros, excelente aquisição de dados, dimensões compactas ✓ Contratos de serviço eficientes e fiáveis e opções de acessórios personalizados (EDX, WDX, EBSD, GatherX, etc.) ✓
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