alpha300 R

O WITec alpha300 é um microscópio Raman confocal único, capaz de realizar rotineiramente imagens Raman químicas em 3D, mantendo a mais alta velocidade de medição e qualidade espetral. Isto é particularmente benéfico para aplicações em que é importante a representação espacial exacta dos componentes químicos na superfície ou no interior da amostra. Perfis de profundidade, pilhas de imagens 3D ou imagens Raman topográficas podem ser facilmente criadas com o máximo conteúdo informativo. A resolução local está sempre dependente do limite físico de difração e tem um mínimo aproximado de 200 nm. Ao mesmo tempo, são possíveis medições de alta velocidade, nas quais podem ser registados até 1300 espectros por segundo.

Com o mais recente lançamento de uma nova geração do microscópio apyron alpha300, a WITec leva a automatização da imagem Raman para o próximo nível. Dentro da série alpha300, o "apyron" é o sistema de imagiologia Raman topo de gama. Combina a facilidade de utilização com a máxima capacidade, automatizando o controlo do hardware e oferecendo rotinas de medição pré-configuradas. Isso simplifica o fluxo de trabalho experimental e produz resultados reproduzíveis com velocidade, sensibilidade e resolução inigualáveis.

Uma vantagem crítica da tecnologia WITec Raman é a série de espectrómetros UHTS flexíveis e de elevado rendimento. Cada espetrómetro é optimizado para o comprimento de onda de excitação utilizado. Como resultado, o utilizador obtém um rendimento muito mais elevado do que com espectrómetros convencionais e pode operar, por exemplo, com uma potência laser mais baixa, o que é particularmente vantajoso quando se investigam amostras sensíveis. As propriedades espectrais são caracterizadas por uma forma de pico que corresponde a uma curva de Lorenz quase ideal e quase toda a gama espetral relevante pode ser registada com uma resolução de pixel de até 0,1 ^cm-1 / pixel.

Se a potência do laser tiver de ser medida e ajustada com exatidão, o cliente pode dispor da opção TruePower, que pode ser utilizada para determinar a potência absoluta do laser em incrementos de 0,1 mW. Os valores são registados com a aquisição de dados Raman e podem ser recuperados mais tarde - importante para a documentação interna. A experiência pode, naturalmente, ser repetida mais tarde, exatamente nas mesmas condições. Isto torna obsoletos os filtros de densidade neutra, que são frequentemente utilizados para este fim, apesar de apenas poderem fornecer uma atenuação relativa.

A conceção modular do microscópio permite a combinação da imagem Raman com outras tecnologias de microscopia. A WITec é pioneira neste domínio e há muito que pode oferecer aos seus clientes a microscopia Raman integrada com AFM ou SNOM, selecionável através de uma simples rotação da torre do microscópio. Uma combinação com a profilometria ótica na opção de microscopia TrueSurface patenteada pela WITec para imagens Raman topográficas permite a investigação de amostras grandes, irregulares, rugosas ou inclinadas e elimina a necessidade de uma preparação complexa da amostra. Com a microscopia RISE, até são possíveis imagens Raman-SEM correlativas.

O sistema de imagem Raman alpha300 da WITec oferece várias vantagens para aplicações versáteis de investigação e desenvolvimento, sem comprometer a confocalidade, mantendo o mais elevado desempenho espetral e velocidade e fornecendo análises 3D detalhadas de diferentes amostras. A operação simples é assegurada por novas caraterísticas de software no estabelecido WITec SUITE 4 e outros conceitos operacionais inovadores. A imagem Raman é, portanto, uma ferramenta flexível e versátil para imagens e análises químicas.

Aplicações

• Investigação farmacêutica (distribuição de medicamentos, sistemas de administração de medicamentos, ...)
• Ciências da vida e biomedicina (exames de células vivas, tecidos, ...)
• Forense (análises de materiais, tintas, ...)
• Ciência dos materiais e nanotecnologia (materiais 2D, nanopartículas, análises de superfícies, ...)
• Revestimentos e películas finas (formação e espessura de camadas, perfis de profundidade, homogeneidade ...)
• Fotovoltaicos e semicondutores (análises de deformação, revestimentos, ...)
• Caracterização de polímeros (estruturas de superfície, cristalinidade, ...)