ZSX Primus IV

O espetrómetro de XRF ZSX Primus IV da Rigaku é um instrumento de XRF sequencial de elevado desempenho (4 kW) que combina um elevado rendimento com uma sensibilidade e resolução de elementos leves líder na indústria.

O design ótico exclusivo da Rigaku do tubo acima da amostra elimina virtualmente a possibilidade de recolha de detritos na fonte de raios X ou no detetor. Isso garante alta precisão de medição e evita manutenção indesejada, tornando-o a escolha ideal para pós e líquidos prensados.

O ZSX Primus IV é ideal para aplicações em análise química industrial e académica, por exemplo, minas e minerais, cimento, ligas, líquidos, metais revestidos, etc.

Principais caraterísticas

• Elevado rendimento de amostras com posição de carregamento dupla - ideal para aplicações industriais
• Potente fonte de raios X de 4 kW com excelente estabilidade a longo prazo
• Tamanho compacto e unidade autónoma leve para WDXRF
• Excelente sensibilidade para elementos leves
• Análise de mapeamento de pontos
• Compensação automática para superfícies de amostras irregulares
• Utiliza a tecnologia mais inovadora de cristais analíticos curvos para intensidades mais elevadas
• Software de orientação ZSX intuitivo
• Disponibilidade de purga de He e _N2 para análise de líquidos e pós soltos

Análise de elevado rendimento e manuseamento automático de amostras

O sistema foi optimizado para análise automatizada de alta velocidade, tornando-o ideal para aplicações industriais que requerem tempos de resposta rápidos. Os designs mecânicos e electrónicos melhorados resultaram na redução do tempo morto e no aumento do débito de amostras. As velocidades de produção mais elevadas são também suportadas por um sistema de análise digital multicanal (D-MCA), que permite o processamento a alta velocidade para taxas de contagem elevadas e, por conseguinte, uma melhor precisão analítica.

Desempenho de elementos leves

O Rigaku ZSX Primus IV oferece também limites de deteção excepcionais para elementos leves graças a uma janela Be de 30 µm no tubo de raios X, a janela mais fina disponível no mercado, bem como cristais analisadores especialmente concebidos com valores 2d específicos para captar os comprimentos de onda dos elementos leves.

Para elementos ultra-leves (Be - O) e elementos leves com emissões de raios X de baixa energia (F - Al), o grau de vácuo tem uma grande influência na intensidade dos raios X. O APC (Controlo Automático da Pressão) permite manter um vácuo estável e facilita a reprodutibilidade da intensidade dos raios X para estes elementos.</p> <p

Análises mais consistentes

Também possui o sistema ótico da Rigaku, que suprime as flutuações de sinal causadas por mudanças na distância entre a amostra e o detetor devido a superfícies irregulares, etc.

Mapeamento de pontos

Com a ZSX Primus IV também é possível efetuar mapeamento de pontos. Utilizando uma câmara de alta resolução, pode facilmente fazer zoom sobre uma caraterística específica de interesse e realizar uma análise química, o que é ideal para amostras não homogéneas, como minerais ou inclusões de ligas.

Software SQX melhorado

Através de melhorias contínuas, a análise SQX da Rigaku está a tornar-se cada vez mais fácil de utilizar. É um método altamente preciso para determinar a composição elementar da sua amostra com base na análise FP sem padrão.

Software de orientação ZSX

O ZSX Guidance fornece suporte abrangente para todos os aspectos da medição XRF e análise de dados. Como parte integrante de todos os espectrómetros Rigaku XRF, permite que os utilizadores menos experientes realizem até mesmo medições e análises complexas, simplificando ao mesmo tempo as suas tarefas de medição de rotina e planeadas.