
Espectrômetros de fluorescência de raios X:
Simultix 15
WDXRF simultâneo com elevado rendimento - Simultix 15


O Rigaku Simultix 15 combina a resolução de análise elementar de um WDXRF com a velocidade analítica de um EDXRF, tornando-o ideal para operações que processam um grande número de amostras sólidas, em pó ou líquidas, por exemplo, nas indústrias de cimento, aço e minerais. Uma vez que todos os canais são analisados simultaneamente e fornecem resultados muito precisos, o Simultix 15 é a solução ideal em termos de tempo de obtenção de resultados, precisão, fiabilidade, baixo custo por análise e longevidade do dispositivo. Apresenta também a geometria de medição "tube from top" exclusiva da Rigaku, que evita que os contaminantes caiam no tubo ou no detetor, assegurando os resultados mais exactos e uma elevada fiabilidade operacional.
Principais caraterísticas
- Gama elementar de Be a U
- Fonte potente de 4 kW (3 kW opcional)
- Análise rápida: varrimento simultâneo de todos os canais
- Geometria de medição "tubo de cima".
- Até 40 canais fixos: 30 canais fixos de série, opcionalmente expansíveis até 40 canais
- Automação: O carregador de amostras opcional permite a ligação a sistemas de preparação de amostras automatizados de terceiros.
- Cristais sintéticos de analisador multicamada da série RX: Os novos cristais sintéticos multicamada RX85 geram uma intensidade aproximadamente 30% mais elevada do que as multicamadas existentes para Be-Ka e B-Ka.
- Canal XRD: Permite análises quantitativas utilizando XRD, para além de XRF.
- Cristais de dupla curvatura: A utilização destes cristais especiais aumenta a intensidade do sinal em comparação com os cristais de curvatura simples.
- Software melhorado e de fácil utilização: Melhoria da facilidade de utilização da análise quantitativa através da adoção da barra de fluxo do software de orientação ZSX.
- Goniómetro de varrimento de ângulo amplo (opcional): O goniómetro opcional de gama de elementos extra larga suporta a análise FP sem padrão e pode ser utilizado para a determinação qualitativa ou quantitativa de elementos pouco comuns.
- Controlo automático da pressão (APC): Mantém constante o vácuo na câmara de medição e melhora significativamente a exatidão na análise de elementos leves.
- Método quantitativo da razão de dispersão: Quando utilizado em conjunto com o método da razão de dispersão Compton para analisar minérios e concentrados, podem ser gerados valores alfa teóricos para a calibração da razão de dispersão.
Análise XRF rápida e exacta
Adequado para analisar elementos de Be a U em quase todas as matrizes de amostras, o Simultix 15 analisa até 30 canais de elementos (opcionalmente até 40) em simultâneo, acionado por uma fonte de 4 kW (opcionalmente 3 kW) para máxima velocidade e sensibilidade. Combinado com uma interface de software intuitiva e fácil de utilizar, optimizada para medição e análise, é o sistema ideal para análises elementares de elevado rendimento.
Ao contrário dos dispositivos WDXRF sequenciais, o Simultix 15 analisa cada um dos canais fixos optimizados em simultâneo, o que resulta numa análise muito mais rápida. O sistema pode ser configurado para os seus elementos específicos de interesse.
Trocador automático de amostras
Para a derradeira análise XRF de alto rendimento, o Simultix 15 pode ser equipado com um trocador automático de amostras (ASC) de 48 posições. Pode ser configurado com um alimentador de fita do lado direito ou esquerdo alimentado por um sistema de preparação de amostras automatizado de terceiros.
Flexibilidade
Para máxima flexibilidade, o Simultix 15 pode ser equipado com um goniómetro de varrimento para medição de outros elementos, bem como XRD para análise de fases.
Observação: este artigo foi traduzido automaticamente. A LUMITOS oferece esse serviço para disponibilizar as informações do produto em mais idiomas. Como este artigo foi criado automaticamente, é possível que haja erros e desvios em relação ao original. A apresentação original em Alemão pode ser encontrada aqui.

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