Applied Rigaku Technologies

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Espectrômetros de fluorescência de raios X com dispersão de energia:

NEX DE VS

Espectrómetro de fluorescência de raios X de elevado desempenho para análises precisas e rápidas de elementos

Applied Rigaku Technologies, Inc.

O Rigaku NEX DE VS é um espetrómetro de fluorescência de raios X por dispersão de energia (EDXRF) de elevado desempenho com excitação direta que oferece uma análise elementar qualitativa e quantitativa rápida e não destrutiva na gama do sódio (Na) ao urânio (U), combinada com a capacidade de analisar com pequenas dimensões de pontos. Permite uma vasta gama de aplicações e é ideal para medir concentrações de elementos na gama baixa de ppm até concentrações elevadas de peso por cento. É ideal para exploração, investigação, testes RoHS, educação, forense, monitorização industrial e de produção.

Quando o tempo de análise ou o rendimento da amostra são críticos, o NEX DE VS fornece resultados poderosos. Possui um tubo de raios X de 60 kV e 12 W, filtros de tubo de camada única e multicamada e um detetor de desvio de silício (SDD) de alto desempenho que suporta taxas de contagem de mais de 500.000 cps. As elevadas taxas de contagem asseguram baixos limites de deteção e uma excelente resolução espetral. Podem ser efectuadas medições de elevado rendimento com uma variedade de trocadores de amostras automáticos intermutáveis. Graças a estas caraterísticas, o NEX DE VS fornece resultados de análise de alta precisão com os mais curtos tempos de medição. O NEX DE VS está equipado com o software Rigaku QuantEZ® para um controlo rápido e intuitivo do instrumento. A boa navegação nos menus e a interface de análise EZ simplificam os procedimentos de rotina e apoiam a criação de novas aplicações com a ajuda de um assistente.

Para a análise de pequenas manchas, o NEX DE VS possui uma câmara de alta resolução e colimadores automáticos que permitem um posicionamento preciso das amostras para análise de manchas de 1 mm, 3 mm e 10 mm. A grande câmara de amostras do dispositivo acomoda amostras com um diâmetro de até 30 cm e uma altura de até 10 cm. A interface para análise de manchas e a câmara integrada permitem um posicionamento fácil da amostra para medições de pequenas áreas ou estruturas. O NEX DE VS é um excelente sistema para a medição de revestimentos em peças mais pequenas, para o rastreio de pequenas amostras, por exemplo, sucata eletrónica, ou para a análise de corpos estranhos de composição desconhecida.

Quer seja na produção ou no laboratório de controlo de qualidade, o NEX DE VS oferece um desempenho inigualável para análises de massa e de pequenos volumes. O seu desempenho analítico superior, flexibilidade e facilidade de utilização tornam-no atrativo para uma gama cada vez maior de aplicações, incluindo controlo de qualidade básico (CQ), controlo de qualidade analítico (CQA), garantia de qualidade (GQ) ou controlo estatístico de processos, como o Six Sigma.

Observação: este artigo foi traduzido automaticamente. A LUMITOS oferece esse serviço para disponibilizar as informações do produto em mais idiomas. Como este artigo foi criado automaticamente, é possível que haja erros e desvios em relação ao original. A apresentação original em Alemão pode ser encontrada aqui.

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