Análise melhorada de superfícies de silício

Progressos no domínio da energia fotovoltaica, por exemplo

03.04.2025 - Um novo método de análise de superfícies rugosas de silício combina a microscopia de força atómica (AFM) e a espetroscopia de fotoelectrões de raios X (XPS). Isto facilita a correção de erros causados pela rugosidade da superfície. O método permite obter resultados mais precisos, nomeadamente no ...