Acheter des microscopes de JEOL (analyse des défaillances)
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JEOL SEM Series de JEOL
Microscopie électronique à balayage : des systèmes flexibles pour la recherche et l'industrie
De l'appareil de table au FEG-REM : des solutions sur mesure pour des analyses précises
MEB allant de l'appareil à émission de champ haut de gamme à ultra-haute résolution à l'unité de bureau facile d'accès ✓ Instruments flexibles à longue durée de vie, faciles à manipuler, de dimensions compactes et offrant une excellente acquisition de données ✓ Solutions de service efficaces et fiables et accessoires personnalisables (EDS, WDS, EBSD, GatherX, etc.) ✓
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