Simultix 15

Le Rigaku Simultix 15 combine la résolution d'analyse élémentaire d'un WDXRF avec la vitesse d'analyse d'un EDXRF, ce qui le rend idéal pour les opérations traitant un grand nombre d'échantillons solides, en poudre ou liquides, par exemple dans les industries telles que le ciment, l'acier et le traitement des minerais. Avec tous les canaux scannés simultanément, fournissant des résultats sans compromis, le Simultix 15 est la solution optimale en termes de temps d'obtention des résultats, de précision, de fiabilité, de faible coût par analyse et de longévité de l'instrument.

Il est également doté de la configuration optique unique de Rigaku, qui empêche les contaminants d'atterrir sur le tube ou le détecteur, garantissant ainsi les résultats les plus précis possibles.

Caractéristiques principales

• Gamme d'éléments - Be à U
• Source de puissance élevée - 4 kW (ou 3 kW en option)
• Analyse rapide - balayage simultané de tous les canaux.
• Configuration optique tube-au-dessus
• Jusqu'à 40 canaux fixes - 30 canaux fixes en standard et 40 canaux fixes en option
• Automatisation - L'unité de chargement d'échantillons optionnelle permet l'alimentation par courroie des systèmes d'automatisation de préparation d'échantillons tiers.
• Multicouches synthétiques, SÉRIE RX - Les nouveaux cristaux multicouches synthétiques RX85 produisent une intensité supérieure d'environ 30 % à celle des multicouches existantes pour Be-Kα et B-Kα.
• Canal XRD - Permet une analyse quantitative par XRF et XRD.
• Cristaux doublement incurvés - L'application de cette option augmente l'intensité du signal par rapport aux cristaux simples incurvés.
• Logiciel amélioré et facile à utiliser - Améliore l'opérabilité du réglage des conditions quantitatives en adoptant la même barre de flux d'analyse quantitative que celle utilisée dans le logiciel ZSX.
• Goniomètre à balayage lourd et léger - Le goniomètre optionnel à large gamme élémentaire prend en charge le semi-quantitatif sans norme (FP) et peut être utilisé pour la détermination qualitative ou quantitative d'éléments non routiniers.
• Contrôle automatique de la pression (APC) - Maintient un niveau de vide constant dans la chambre optique, ce qui améliore considérablement la précision de l'analyse des éléments légers.
• Méthode quantitative du rapport de diffusion - Lorsque cette option est utilisée en conjonction avec la méthode du rapport de diffusion Compton, pour l'analyse des minerais et des concentrés, il est possible de générer des alphas théoriques pour l'étalonnage du rapport de diffusion.
  

Analyse XRF rapide et précise

Adapté à l'analyse de Be à U dans presque toutes les matrices d'échantillons, le Simultix 15 balaie simultanément jusqu'à 30 canaux d'éléments (et jusqu'à 40 en option), alimentés par une source de 4 kW (ou 3 kW en option) pour une vitesse et une sensibilité maximales. Associé à une interface logicielle intuitive et simple d'utilisation qui rationalise les mesures et les analyses, il devient le partenaire idéal pour l'analyse élémentaire à haut débit.

Contrairement à la plupart des instruments WDXRF, qui effectuent un balayage séquentiel, le Simultix 15 balaye simultanément chaque canal fixe discret et optimisé, ce qui permet d'effectuer des analyses beaucoup plus rapides. Le système peut être configuré en fonction de votre ensemble spécifique d'éléments d'intérêt.

Changeur automatique d'échantillons

Pour une analyse XRF à haut débit, le Simultix 15 peut être équipé d'un changeur automatique d'échantillons (ASC) à 48 positions. Il peut être configuré avec une alimentation par courroie à droite ou à gauche, alimentée par un système de préparation d'échantillons automatisé tiers.

Flexibilité

Pour une flexibilité maximale, le Simultix 15 peut être équipé d'un goniomètre à balayage pour mesurer d'autres éléments, ainsi que d'un XRD pour l'analyse des phases.