Analyse des semi-conducteurs - 1 News

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Le prix de l'innovation Georg Waeber 2023 décerné à la caractérisation des défauts des plaquettes de silicium basée sur la topographie par rayons X

02.11.2023 - Une équipe inter-organisationnelle de Rigaku SE et de Fraunhofer IISB a mis au point une nouvelle méthode de caractérisation des matériaux semi-conducteurs dans leur Centre d'expertise pour la topographie par rayons X, exploité conjointement à Erlangen, en Allemagne. Ils ont réussi non seulement ...

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